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所謂地質薄片是指在偏光顯微鏡下鑒定透明礦物和巖石的一種方法。將礦物或巖石標本磨制成薄片，結合鏡下觀察，對礦石和圍巖的礦物成分、礦石結構構造、礦物共生組合和生成順序、近礦圍巖蝕變特征、次生變化等進行研究，為確定巖石或礦石的礦物種類、分析地質構造、推斷礦床生成地質條件、了解礦石加工技術性能以及劃分礦石自然類型等方面提供資料依據。
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1、樣品切割成小方塊 ---將原始的大型礦物分解為小型規則礦物。 |
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2、樣品粘合面的研磨拋光 |
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3、樣品清洗 ——去除各道處理工序中殘余研磨削與磨料，振蕩出礦物碎削 |
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4、樣品與載玻片的粘結固定 |
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5、樣品標記與干燥 |
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6、樣品切割減薄至0.5mm |
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7、樣品測厚 ---在磨拋前進行預測厚并做好記錄 |
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8、樣品研磨拋光 ——在保證樣品兩表面平行度的前提下研磨減薄至0.03mm，并進行拋光處理。 |
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9、加蓋玻片，偏光觀察 ——偏光顯微鏡下觀察樣品的具體形態 |
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